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    日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列 測厚儀

    訪問次數(shù):1566

    更新日期:2025-05-02

    簡要描述:

    日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列
    一種便攜式薄膜厚度計,可以通過麻煩的薄膜厚度測量更輕松地提高生產(chǎn)效率。

    日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列 測厚儀
    類型數(shù)字式測量范圍1

    日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列

     

    一種便攜式薄膜厚度計,可以通過麻煩的薄膜厚度測量更輕松地提高生產(chǎn)效率。

    QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕巧的緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度,而無需攜帶重型薄膜厚度計。
    無線測量無需電纜。除了有助于將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€人計算機外,它還有助于防止測量期間發(fā)生跌落事故。

    QNIx系列的功能

    無需進行膜校準即可進行精確的膜厚度測量

    通過在出廠時輸入16Point校準數(shù)據(jù)來交付。這樣就無需進行麻煩的薄膜校準工作,并且可以精確測量薄膜厚度。

    膜厚測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

    在常規(guī)的測量儀器中,通過用電纜連接儀器主體和個人計算機來傳輸測量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用“無線加密gou”,只需將其插入USB端口即可進行傳輸。可以更快,更輕松地查看測量數(shù)據(jù)。

    超輕量無線測量儀

    探頭測得的數(shù)據(jù)無線傳輸?shù)街鳈C。與傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣,它也減少了被電纜卡住,阻礙和導致墜落事故的風險。此外,該探頭重30克,重量超輕,因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。

    難以斷裂且在被測物體上*跡的探針

    QNIx系列探頭被增強塑料包圍,可將耐用性提高30%。即使發(fā)生故障,也很容易拆卸和維修,從而縮短了維修時間。此外,還附有紅寶石筆尖,因此您可以安全地進行測量而不會損壞要測量的物體(樣品)。

    日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列

    QNIx系列比較規(guī)格表

     

    QNIx 8500

    QNIx
    4500/4200

    QNIx 7500

    QNIx Carcheck系統(tǒng)

    方便的QNIx

    可測量的電影

    [F]鐵材料上的非磁性涂層
    [N]非鐵材料上的非導電涂層
    [FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導電涂層

    [FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導電涂層

    [FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度

    材料識別


    自動識別鐵和非鐵材料的交換


    自動識別鐵和非鐵材料的交換

    用戶的轉(zhuǎn)換


    自動識別鐵和非鐵材料的交換

    鐵/非鐵,自動識別模式轉(zhuǎn)換

    測量原理

    [F]磁通量(霍爾效應(yīng))
    [N]渦流(渦流)

    測量范圍

    0-2,000μm
    (可選:5,000μm )

    0-3,000微米

    0-2,000μm
    (可選:5,000μm )

    0-5,000微米

    0-500微米

    z
    分辨率

    0.1μm,1μm
    [M] 0.01μm

    1微米

    0.1微米

    0.1微米,1微米

    5微米

    配置格式

    0點校正
    用戶校準:1
    [M] 100件

    0點校正

    0點校正

    沒有校準功能

    沒有校準功能

    準確性

    ±(1微米+ 2%)
    ±3.5%
    (2毫米或更多)
    [T] ±
    (0.3微米+ 2%)

    ±(2微米+ 3%)

    ±(1微米+ 3%)

    ±(1微米+ 2%)
    ±3.5%
    (2毫米或更多)

    ±(10微米+ 5%)

    測量速度

    1,500ms
    (約40次/分鐘)
    [T] 920ms
    (約65次/分鐘)
    [R] 1,600ms
    (約37次/分鐘)

    600ms
    (約70次/分鐘)

    1,300ms
    (約46次/分鐘)

    1,500ms
    (約40次/分鐘)

    600ms
    (約100次/分鐘)

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