<address id="lxzox"></address>
  • <dfn id="lxzox"><button id="lxzox"></button></dfn>

  • <object id="lxzox"><tt id="lxzox"></tt></object>
    
    <label id="lxzox"></label>
  • <ul id="lxzox"></ul>
    <dfn id="lxzox"><button id="lxzox"></button></dfn>
  • 產(chǎn)品展示
    PRODUCT DISPLAY
    產(chǎn)品展示您現(xiàn)在的位置: 首頁 > 產(chǎn)品展示 > 物理性能檢測 > 膜厚計 >日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀

    日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀

    訪問次數(shù):1938

    更新日期:2025-05-02

    簡要描述:

    日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS
    F3-CS是測量小樣品的測量系統(tǒng)。與測量臺集成的測量系統(tǒng)使其易于攜帶。
    只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺上即可進行測量,約1秒即可測量出膜厚和折射率。

    日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀
    類型數(shù)字式測量范圍1

    日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS

    F3-CS是測量小樣品的測量系統(tǒng)。與測量臺集成的測量系統(tǒng)使其易于攜帶。
    只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺上即可進行測量,約1秒即可測量出膜厚和折射率。

    主要特點

    • 緊湊的尺寸

    • 輕松連接,僅 USB 連接

    • 光學常數(shù)分析(折射率/消光系數(shù))

    主要應用

    光學鍍膜硬涂層、防滴膜、聚對二甲苯等
    平板有機膜等

    日本filmetrics臺式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS

    產(chǎn)品陣容

    模型F3-CS-UVF3-CSF3-CS-近紅外
    測量波長范圍190 – 1100nm380 – 1050nm950 – 1700nm

    膜厚測量范圍

    3nm – 40μm15nm – 70μm100nm – 250μm
    準確性*± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度
    1納米2納米3納米

    *取決于樣品和測量條件



    留言框

    • 產(chǎn)品:

    • 您的單位:

    • 您的姓名:

    • 聯(lián)系電話:

    • 常用郵箱:

    • 省份:

    • 詳細地址:

    • 補充說明:

    • 驗證碼:

      請輸入計算結果(填寫阿拉伯數(shù)字),如:三加四=7
    聯(lián)系方式
    • 電話

    • 傳真

    在線交流

    <address id="lxzox"></address>
  • <dfn id="lxzox"><button id="lxzox"></button></dfn>

  • <object id="lxzox"><tt id="lxzox"></tt></object>
    
    <label id="lxzox"></label>
  • <ul id="lxzox"></ul>
    <dfn id="lxzox"><button id="lxzox"></button></dfn>
  • 被夫上司蹂躏的七天七夜在线观看 | 亚洲日韩成人网址 | 国产美女在线观看 | 国产一区激情 | 女主播勾搭80岁老头啪啪 |