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    日本spectra USB簡易膜厚測量裝置 測厚儀

    訪問次數(shù):1965

    更新日期:2024-03-23

    簡要描述:

    日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness
    由于光照射在透明或半透明的薄膜上,并且根據(jù)光的光譜信息計算薄膜厚度,因此作為一種在不損壞樣品的情況下具有良好再現(xiàn)性的測量方法而備受關(guān)注。

    日本spectra USB簡易膜厚測量裝置 測厚儀
    品牌其他品牌類型數(shù)字式
    測量范圍1產(chǎn)地進口

    日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness 

    image.png

    由于光照射在透明或半透明的薄膜上,并且根據(jù)光的光譜信息計算薄膜厚度,因此作為一種在不損壞樣品的情況下具有良好再現(xiàn)性的測量方法而備受關(guān)注。
    由于樣品是用光纖照射的,因此可以從任何位置在線使用。
    當(dāng)與致動器結(jié)合使用時,也可以進行簡單的映射膜厚度測量。


    可測量樣品

    • 影片

    • 硅、氮化硅、氧化硅

    • 粘合劑、涂料

    • 染料膜、油膜、彩色濾膜

    • 空氣層

    • 光刻 膠

    • 介電膜、金屬氧化膜

    • 紫外光固化樹脂

    • 砷化鎵

    • 光盤、中藥、光盤

    • 聚合體

    不可測量的樣品

    • 涂膜

    • 金屬膜

    日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness 

    各型號的產(chǎn)品規(guī)格

    方便的λII.厚度實心氧厚度
    測量膜厚度范圍50納米-20微米50納米-100微米
    薄膜厚度顯示分辨率0.001微米0.001微米
    測量重復(fù)性0.01μm以下0.01μm以下
    接口USB2.0USB2.0



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